> > 特點(diǎn):
1、擁有現(xiàn)代的加工工藝,研制技術(shù)本身具有足夠的精度等保證其質(zhì)量3、具有格柵狀雙向結(jié)構(gòu),與早期使用的初級(jí)銅網(wǎng)結(jié)構(gòu)相似,是可以同時(shí)對(duì)任意兩個(gè)垂直方向上的掃描電鏡、電子探針的圖像的放大倍率進(jìn)行檢查或校正的標(biāo)樣
4、有德國(guó)PTB國(guó)際計(jì)量型原子力顯微鏡的測(cè)量研究報(bào)告和研制者的研制報(bào)告正式發(fā)布(見(jiàn)“掃描電鏡測(cè)長(zhǎng)問(wèn)題的討論”一書(shū)),即采用目前精度高、可溯源的檢測(cè)方法,有可靠的文獻(xiàn)依據(jù)(5)利用標(biāo)樣上的“點(diǎn)子”圖像,可對(duì)電子束作漂移檢驗(yàn)和樣品臺(tái)復(fù)位檢驗(yàn)
用途:
(1)可用于同時(shí)對(duì)任意兩個(gè)垂直方向上的掃描電鏡的圖像的放大倍率進(jìn)行檢查或校正,是校準(zhǔn)從10×~100,000×范圍的圖像放大倍率的有效的圖形標(biāo)準(zhǔn)樣品
(2)可用于對(duì)圖像的X、Y方向上的畸變和邊緣的畸變進(jìn)行校驗(yàn),是評(píng)價(jià)掃描電鏡圖像質(zhì)量的個(gè)重要工具
(3)可直接用于同一量級(jí)物體長(zhǎng)度的精確比對(duì)測(cè)量
(4)對(duì)樣品臺(tái)傾斜角和電子傾斜以及旋轉(zhuǎn)調(diào)整功能的檢驗(yàn)也有較好的作用
(5)利用標(biāo)樣上的“點(diǎn)子”圖像,可對(duì)電子束作漂移檢驗(yàn)和樣品臺(tái)復(fù)位檢驗(yàn)
標(biāo)準(zhǔn)樣品的形狀、規(guī)格和包裝:
S1000微米-亞微米級(jí)系列標(biāo)樣,總體為5mm×5mm×0.5mm(長(zhǎng)×寬×厚)大小的小方塊。主體圖形為一個(gè)“回”字形的方框,最外框邊長(zhǎng)約為2mm,內(nèi)框的邊長(zhǎng)約為1.2mm,內(nèi)框里面用X、Y軸分為4個(gè)象限,X、Y軸上制作有垂直坐標(biāo)軸方向的線距20μm的短平行線條,4個(gè)象限上分別是線距為40μm、20μm、10μm的方格網(wǎng)狀圖形和線距為5μm的X、Y雙向平行線條圖形,內(nèi)框的中部又是“回”字形的方框,大框的邊長(zhǎng)約為160m,小框邊長(zhǎng)約50μm,大框和小框之間在X方向和Y方向上都有線距為5μm的平行線條,小框里面是線距為1μm或0.5μm的X、Y雙向平行線條圖形(見(jiàn)圖1),在5μm和1μm或0.5μm的線距結(jié)構(gòu)上還有一些十字形和圓點(diǎn),可用于在較大放大倍率下圖像的聚集和像散調(diào)整,不同的線距大小可用于從10×~10000放大倍率范圍的校準(zhǔn),而把40μm、20μm和10μm的線距結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)成方格形,是為了在對(duì)放大倍率進(jìn)行準(zhǔn)確校準(zhǔn)的同時(shí),可以對(duì)圖像的畸變、像散等進(jìn)行校驗(yàn),5μm的線距結(jié)構(gòu)也同時(shí)具有X、Y兩個(gè)方向的平行線條,是為了方便同時(shí)對(duì)X、Y兩個(gè)方向進(jìn)行放大倍的準(zhǔn)而不必機(jī)械旋轉(zhuǎn)標(biāo)準(zhǔn)器。
標(biāo)準(zhǔn)樣品的穩(wěn)定性:
標(biāo)準(zhǔn)樣品基質(zhì)材料為單晶硅或石英玻璃基片,材料性質(zhì)穩(wěn)定。在對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行觀察時(shí),可看到標(biāo)準(zhǔn)樣品具有良好的導(dǎo)電性,并且在掃描電鏡下所產(chǎn)生的圖形具有很好的對(duì)比度,在掃描電鏡下或光學(xué)顯微鏡下進(jìn)行多次長(zhǎng)時(shí)間的觀察后,未見(jiàn)標(biāo)準(zhǔn)樣品圖形或線距結(jié)構(gòu)發(fā)生變形或其他損壞,即標(biāo)準(zhǔn)樣品在電子束重復(fù)照射下是穩(wěn)定的。
標(biāo)準(zhǔn)樣品的均勻性:
本系列標(biāo)準(zhǔn)樣品的片內(nèi)線距均勻性由德國(guó)聯(lián)邦物理研究所(PTB)使用一臺(tái)大范圍計(jì)量型掃描力顯微鏡( M-LRSFM進(jìn)行測(cè)量,40μm、20μm、10μm和5μm的線距結(jié)構(gòu)的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差分別為<0.15%、<0.25%、<0.3%、<0.5%和<1%;片間線距的均勻性送國(guó)家有色金屬及電子材料分析測(cè)試中心掃描電鏡實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行檢查,隨機(jī)取10個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品,在相同掃描電鏡工作條件下獲取每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品上每種線距結(jié)構(gòu)的圖像,在每個(gè)圖像上的不同位置取若干個(gè)線距周期測(cè)量4個(gè)長(zhǎng)度數(shù)據(jù),其測(cè)量結(jié)果標(biāo)準(zhǔn)偏差分別為:<0.39%、<0.19%、<0.21%和<0.19%
標(biāo)準(zhǔn)值和置信限:
本系列標(biāo)準(zhǔn)樣品的線距值由德國(guó)聯(lián)邦物理研究所(PTB)使用一臺(tái)大范圍計(jì)量型掃描力顯微鏡(M- LRSFM)進(jìn)行測(cè)量,測(cè)量結(jié)果可直接溯源至米定義計(jì)量基準(zhǔn)。各線距結(jié)構(gòu)的測(cè)量值分別為:40000.6±4.2nm(X方向)、40001.8±4.2nm(Y方向)、20000.4±1.8nm(X方向)、20000.0±1.8nm(Y方向)、10000.2±0.5mm(X方向)、10000.0±0.5mm(Y方向)、5000.0±0.6mm(X方向)、5000.3±0.6mm(Y方向)、1000.4±0.7nm(X方向)、1000.4±0.7mm(Y方向),置信限為95%,k=2。
測(cè)試使用計(jì)量基準(zhǔn)裝置主要儀器:計(jì)量型掃描電子顯微鏡標(biāo)準(zhǔn)裝置
測(cè)量范圍:線間隔結(jié)構(gòu)(0~50)μm
不確定度/準(zhǔn)確度等級(jí):U=(1+2×10-3*p)nm,k=2(P-nm)
測(cè)試結(jié)果:
1、樣板外觀:良好
2、測(cè)量范圍:對(duì)樣塊中指定量值的柵格間距區(qū)域,進(jìn)行多次重復(fù)測(cè)量
3、樣塊刪格間距校準(zhǔn)結(jié)果及測(cè)量不確定度:
測(cè)量區(qū)域 |
A |
B |
C |
D |
E1 |
E2 |
標(biāo)稱值/μm |
40 |
20 |
10 |
5 |
2 |
1 |
X方向校準(zhǔn)值/nm |
39993 |
20052 |
10011 |
5033 |
1998 |
994 |
Y方向校準(zhǔn)值/nm |
40074 |
20049 |
10000 |
5042 |
2003 |
1001 |
U95/nm |
50 |
31 |
11 |
8 |
4 |
2 |